SRI DIANTIKA; WINDU GATA; HIYA NALATISSIFA. Komparasi Algoritma SVM Dan Naive Bayes Untuk Klasifikasi Kestabilan Jaringan Listrik . Elkom : Jurnal Elektronika dan Komputer, [S. l.], v. 14, n. 1, p. 10–15, 2021. DOI: 10.51903/elkom.v14i1.319. Disponível em: https://journal.stekom.ac.id/index.php/elkom/article/view/319. Acesso em: 20 nov. 2024.